非接觸式面電阻測試儀Statometer G

非接觸式面電阻測試儀Statometer G采用感應式測量原理，無探針接觸導電膜層，既可測量表面導電也可測量表面不導電的導電玻璃和導電膜層，是目前Low-E鍍膜生產普遍選用的優質選擇。

產品特點：

1.非電流接觸測試鍍膜層；

2.不摩擦刮傷測試涂層；

3.以Ohm/sq或Siemens/sq顯示數據；

4.大液晶顯示；

5.便攜式，具備數據記憶及232接口傳輸

6.儀器具備鋰電子供電

7.以nm級顯示膜層厚度及OD（optical density）值（選配）；

8.明亮圖像顯示數據

非接觸式面電阻測試儀Statometer G規格：

測量方法：高頻反應（渦流感應）

核心測量范圍：0.5…20.00Ω/□

可擴展范圍：達50.00Ω/□

解析度：0.5 Ohm: 0.001Ω/□

2 Ohm以上: 0.01Ω/□

20 Ohm以上：0.1Ω/□

精確性：0.5…5.0Ω/□: 5%

5.0…20Ω/□: 7%

20…50Ω/□:10%

測量連續性：2秒鐘

串行接口：RS-232（通過插接座連接）

操作環境溫度：+10—+45℃

外形尺寸：23cm*7cm*4cm

重量：約510克