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          雙向反射/透射空間分布測量系統(tǒng)

          簡要描述:BBMS-2000雙向反射/透射空間分布測量系統(tǒng)可*分析測量材料表面的反射、透射特性,可測參數(shù)包括材料的雙向透射分布(BTDF)、雙向反射分布(BRDF)、反射比分布、透射比分布、總反射(TIR)、總散射(TIS)等,可廣泛應(yīng)用于金屬、塑料、紙張、紡織品、玻璃、涂面、光學(xué)膜材料等諸多材料的表面光學(xué)特性的定量分析,其BRDF/BTDF數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出至光學(xué)設(shè)計軟件中,用于光學(xué)系統(tǒng)模擬設(shè)計

          • 產(chǎn)品型號:遠方BBMS-2000
          • 廠商性質(zhì):代理商
          • 更新時間:2019-01-27
          • 訪  問  量:2486

          詳細介紹

          遠方BBMS-2000 雙向反射/透射空間分布測量系統(tǒng)

          BBMS-2000雙向反射/透射空間分布測量系統(tǒng)可*分析測量材料表面的反射、透射特性,可測參數(shù)包括材料的雙向透射分布(BTDF)、雙向反射分布(BRDF)、反射比分布、透射比分布、總反射(TIR)、總散射(TIS)等,可廣泛應(yīng)用于金屬、塑料、紙張、紡織品、玻璃、涂面、光學(xué)膜材料等諸多材料的表面光學(xué)特性的定量分析,其BRDF/BTDF數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出至光學(xué)設(shè)計軟件中,用于光學(xué)系統(tǒng)模擬設(shè)計。

          Ø 

           
            

          主要特點

           

          系統(tǒng)通過四軸精密旋轉(zhuǎn)配合,可以實現(xiàn)空間內(nèi)任意光照方向下的半球反射/透射分布測試;

          法測試,不受樣品的形態(tài)、光學(xué)性質(zhì)的約束;

          測試光路及計算方法,*符合ASTM E2387等標準要求。

          測試的BRDF/BTDF數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出至Tracepro等光學(xué)設(shè)計軟件中,用于輔助光學(xué)材料或系統(tǒng)的模擬、設(shè)計;

          高精度,高穩(wěn)定度 ;

          ²  接收光路長,接收立體角小,測量不確定度小

          ²  激光光源,能量高、單色性好、準直度高;

          ²  配備監(jiān)視探測器,消除光源波動對測量的影響;

          ²  探測器動態(tài)范圍大,測試準確度高;

          ²  機械轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動精度高,角度分辨率、重復(fù)性好。

          綜合分析表面散射性能

          ²  雙向反射分布函數(shù)BRDF

          ²  雙向透射分布函數(shù)BTDF

          ²  反射比分布

          ²  透射比分布

          ²  總反射率TIR

          ²  總散射率TIS

          光源自由切換,波長覆蓋紫外-可見-近紅外范圍,實現(xiàn)不同顏色光照下材料表面散射特性的測試,適用于有光譜選擇性的樣品;

           

          上位機多功能分析軟件,提供多種BRDF/BTDF二維及三維分析圖,并配有于BSDF分布數(shù)據(jù)查看軟件,提供專業(yè)的BSDF數(shù)據(jù)分析;

           

          Ø  典型測量界面

           

           

           

          Ø  

           

          BRDF二維剖面分布和極坐標分布

           

          BRDF二維極坐標多面分布

          特征面三維坐標分布

          Ø  技術(shù)指標

          測試類型

          In-plane/Out-of-plane BSDF

          測量參數(shù)

          BRDF、BTDF、反射比、透射比、TIRTIS

          光源

          激光,覆蓋可見-近紅外范圍(特殊可定制)

          光源天頂角

          0°~80°

          光源方位角

          0°~360°

          探測器天頂角

          -85°~85°

          探測器方位角

          0°~180°

          角度分辨率

          0.01°

          角度重復(fù)精度

          0.1°

          動態(tài)測量范圍

           

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